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SN74ABTH18646APM

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Parte del produttore
SN74ABTH18646APM
Produttore
Texas Instruments
Descrizione
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Categoria
circuiti integrati
Famiglia
logica - logica di specialità
Disponibile
12029
Schede tecniche in linea
-
  • serie:74ABTH
  • pacchetto:Tray
  • stato di parte:Active
  • tipo logico:Scan Test Device With Transceivers And Registers
  • tensione di alimentazione:4.5V ~ 5.5V
  • numero di bit:18
  • temperatura di esercizio:-40°C ~ 85°C
  • tipo di montaggio:Surface Mount
  • pacchetto / custodia:64-LQFP
  • pacchetto di dispositivi del fornitore:64-LQFP (10x10)
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