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SN74BCT8245ADWR

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Parte del produttore
SN74BCT8245ADWR
Produttore
Texas Instruments
Descrizione
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
Categoria
circuiti integrati
Famiglia
logica - logica di specialità
Disponibile
16536
Schede tecniche in linea
-
  • serie:74BCT
  • pacchetto:Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
  • stato di parte:Active
  • tipo logico:Scan Test Device with Bus Transceivers
  • tensione di alimentazione:4.5V ~ 5.5V
  • numero di bit:8
  • temperatura di esercizio:0°C ~ 70°C
  • tipo di montaggio:Surface Mount
  • pacchetto / custodia:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • pacchetto di dispositivi del fornitore:24-SOIC
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